現(xiàn)在探針的用途也越來越廣，特別是高科技企業(yè)產(chǎn)品的生產(chǎn)都離不開測試探針，沒有測試探針高科技產(chǎn)品無法確保品質。那么探針該如何選擇呢?下面的介紹相信大家看后會更好地選擇自己需要什么樣的探針產(chǎn)品了。

　　半導體測試探針主要應用于半導體的芯片設計驗證、晶圓測試、成品測試環(huán)節(jié)，是連通芯片/晶圓與測試設備進行信號傳輸?shù)暮诵牧悴考?，對半導體產(chǎn)品的質量控制起著重要的作用。

　　1、測試探針產(chǎn)品結構

　　探針一般由針頭、針尾、彈簧、外管四個基本部件經(jīng)精密儀器鉚壓預壓之后形成。

　　由于半導體產(chǎn)品的體積較小，尤其是芯片產(chǎn)品的尺寸非常細微，探針的尺寸要求達到微米級別，是一種高端精密電子元器件，其制造技術含量高。

　　在晶圓或芯片測試時，探針一般用于晶圓/芯片引腳或錫球與測試機之間的精密連接，實現(xiàn)信號傳輸以檢測產(chǎn)品的導通、電流、功能和老化情況等性能指標。

　　不同用途的探針外觀有所不同，但探針內部基本上都有精密的彈簧結構，產(chǎn)品表面一般鍍金，具有很強的防腐蝕性、電氣性能、穩(wěn)定性和耐久性。

　　作為半導體測試設備中的關鍵部件，探針的結構設計(如針頭形狀)、針頭材質(如鎢、鈸銅)、彈力大小等均對探針的穩(wěn)定性、細微化、信號傳導精確度等有影響，進而影響探針的測試精度。

　　2、測試探針結構分類

　　從結構來看，常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探針。

　　彈性探針

　　彈性探針由螺旋彈簧兩端套接在上下柱栓上，螺旋彈簧中間部分緊密纏繞(防止高頻信號產(chǎn)生附加電感和附件電阻)，兩端部分稀疏纏繞(可形變減少彈簧剛度對測試件的壓強)，檢測集成電路時，信號從下柱栓向上形成導電路徑。

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