常規(guī)的測(cè)試探針包括半導(dǎo)體測(cè)試探針、ICT探針、螺紋/旋轉(zhuǎn)探針、界面針、夾片探針、開(kāi)關(guān)探針、大電流探針、PCB探針、電池探針以及線束探針。以下是這些探針的詳細(xì)介紹：

1. 半導(dǎo)體測(cè)試探針：這種探針通常用于晶圓或芯片的老化測(cè)試，具有非常精細(xì)的雙頭設(shè)計(jì)，能夠適應(yīng)高溫、低溫、高濕和高頻等極端環(huán)境。

2. ICT探針：ICT在線測(cè)試針主要應(yīng)用于I在線電路測(cè)試和功能測(cè)試，也稱(chēng)ICT和FCT測(cè)試，也是目前應(yīng)用較多的一種探針。

3. 螺紋/旋轉(zhuǎn)探針：這種探針設(shè)計(jì)用于測(cè)試線束或電纜塊的端子，可覆蓋50mil到150mil的測(cè)試間距，高電流使用時(shí)考慮采用螺紋擰入式探針。

4. 界面針：界面針是用于界面模板的信號(hào)傳輸，界面模板的形式包括:界面針和接觸終端，確保內(nèi)部、外部和指定接口中進(jìn)行可靠的信號(hào)傳輸。

5. 夾片探針：適用于需要精確電流和電壓測(cè)量的場(chǎng)合，如變壓器和電感的測(cè)試。除了基本的測(cè)試功能外，還可以用于更復(fù)雜的電子組件測(cè)試，如接插件的性能評(píng)估。

6. 電池探針：主要用于充電產(chǎn)品中，通過(guò)注入模塊實(shí)現(xiàn)電流充電，高質(zhì)量的電池探頭也用于攝影設(shè)備或磁性連接器。

7. 大電流探針：大電流探針是一種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于承載高電流的測(cè)試探針，其能有效地在電子測(cè)試過(guò)程中傳遞較高的電流，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及電路板的測(cè)試領(lǐng)域。

8. 開(kāi)關(guān)探針：開(kāi)關(guān)針適合非常多樣化的應(yīng)用，既可以用于部件的存在性檢查，也可以用作檢測(cè)打開(kāi)/閉合狀態(tài)的開(kāi)關(guān)，以及用作過(guò)程控制的信號(hào)發(fā)射器。此外還可以對(duì)插頭外殼中的接觸端子進(jìn)行位置確定。

9. 線束探針：線束開(kāi)關(guān)測(cè)試探針介紹：主要用于汽車(chē)線束通斷檢測(cè)及新能源元件測(cè)試。內(nèi)置開(kāi)關(guān)功能的探針主要用于物體存在性測(cè)試，該探針是指通過(guò)將針頭壓入指定距離(開(kāi)關(guān)行程)來(lái)觸發(fā)內(nèi)部開(kāi)關(guān)，而實(shí)現(xiàn)通/斷回路的功能，對(duì)于不需要電導(dǎo)通的測(cè)試，我們有絕緣頭開(kāi)關(guān)式探針可供選擇。

10. PCB探針：PCB探針(pcbProbes)探針主要是根據(jù)線路板(PCB)板的中心距和被測(cè)點(diǎn)的形狀而定的，PCB板上所要測(cè)試的點(diǎn)與點(diǎn)之間越近，選用探針的外徑也就越細(xì)。

總之，了解不同類(lèi)型測(cè)試探針的特性和應(yīng)用可以幫助工程師和技術(shù)人員選擇最合適的工具，以確保電子組件和系統(tǒng)的質(zhì)量和性能。在選擇探針時(shí)，應(yīng)考慮其電氣特性、機(jī)械耐久性及與被測(cè)設(shè)備的兼容性。