ICT測(cè)試探針的定義、應(yīng)用范圍、特點(diǎn)及ICT測(cè)試的意義

　　ICT測(cè)試探針的定義:在線(xiàn)測(cè)試，ICT,In-Circuit Test,是通過(guò)對(duì)在線(xiàn)元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段，它主要檢查在線(xiàn)的單個(gè)元器件以及各電路及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。

　　ICT測(cè)試探針的應(yīng)用范圍:檢查制成板上在線(xiàn)元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接的情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試,對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory類(lèi)、常用驅(qū)動(dòng)類(lèi)、交換類(lèi)等IC.

　　ICT測(cè)試探針的特點(diǎn)：它通過(guò)直接對(duì)在線(xiàn)器件電氣性能的測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類(lèi)可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類(lèi)的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類(lèi)可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線(xiàn)等故障。

　　ICT測(cè)試探針的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上,故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專(zhuān)業(yè)知識(shí)，采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單， 測(cè)試快捷迅速 ，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。

　　ICT測(cè)試探針的意義：在線(xiàn)測(cè)試通常是生產(chǎn)中第一道測(cè)試工序,能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ICT測(cè)試過(guò)的故障板，因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅 提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。